Sem Laboratuarı

 

Taramalı Elektron Mikroskopu

Taramalı elektron mikroskobu (SEM), yüzeyin odaklanmış bir elektron demetiyle taranmasıyla bir numunenin görüntülerini üreten bir elektron mikroskobudur. Elektronlar, numunenin yüzey topografisi ve kompozisyonu hakkında bilgi içeren çeşitli sinyaller üreten, numunedeki atomlarla etkileşime girer. Elektron ışını, bir tarama tarama modelinde taranır ve bir görüntü elde etmek için ışının konumu, algılanan sinyal ile birleştirilir. SEM 1 nanometre daha iyi çözünürlük elde edebilirsiniz.


Bu sayfa Metallurgical and Materials Engineering tarafından en son 20.03.2020 15:26:53 tarihinde güncellenmiştir.

Metalurji ve Malzeme Mühendisliği

HIZLI ERİŞİM